因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個人測試暫不接受委托，望見諒。

檢測項目

體積密度測定、孔隙率分析、元素分布映射、晶粒尺寸測量、界面結(jié)合強度測試、臨界電流密度驗證、殘余應(yīng)力評估、超導相含量測定、銅錫比分析、氧含量檢測、碳雜質(zhì)篩查、層間結(jié)合力測試、熱膨脹系數(shù)測定、電阻率分布掃描、磁滯損耗測量、機械拉伸強度驗證、扭轉(zhuǎn)性能測試、疲勞壽命評估、微觀裂紋探測、表面粗糙度分析、鍍層厚度測量、擴散層深度檢驗、相變溫度測定、晶格常數(shù)計算、位錯密度統(tǒng)計、磁通釘扎特性驗證、超導轉(zhuǎn)變寬度分析、交流損耗測試、微觀硬度映射、宏觀形變監(jiān)測

檢測范圍

多芯Nb3Sn超導線材、青銅法復(fù)合線材、內(nèi)錫法工藝線材、粉末裝管法制備線材、反應(yīng)熱處理試樣、磁控濺射鍍層樣品、機械合金化中間體、低溫軋制半成品、高溫擴散處理試樣、超導股線束組件、電纜絞合結(jié)構(gòu)件、磁體繞組預(yù)制件、加速器腔體用導體線圈材料核聚變裝置用CICC導體單元件樣品核磁共振成像用梯度線圈基材粒子探測器用超導絲材高場磁體用穩(wěn)定化導體低溫恒溫器連接導線超導儲能系統(tǒng)用帶材量子計算機用微納線材航空航天用輕量化復(fù)合導體醫(yī)療設(shè)備用生物兼容涂層線材輸變電系統(tǒng)用低交流損耗導體軌道交通用抗振動線材海底電纜用耐腐蝕復(fù)合線材衛(wèi)星通訊用高頻超導材料深空探測用耐輻射線材新能源裝置用高載流導體工業(yè)電機用高強度線材科研實驗用微型化樣品

檢測方法

X射線衍射法（XRD）：通過布拉格角計算晶格參數(shù)變化，評估相組成與晶體結(jié)構(gòu)完整性。

掃描電子顯微鏡（SEM-EDS）：結(jié)合能譜分析實現(xiàn)微區(qū)元素定量及界面擴散行為表征。

阿基米德排水法：采用精密比重天平測定材料實際密度與理論密度的偏差值。

四點探針法：在液氦溫區(qū)下測量超導態(tài)電阻率分布特征。

同步輻射CT掃描：三維重構(gòu)復(fù)合材料內(nèi)部孔隙網(wǎng)絡(luò)與裂紋擴展路徑。

納米壓痕技術(shù)：通過載荷-位移曲線解析微觀力學性能梯度分布。

磁化強度測量（VSM）：在4.2K溫度下獲取磁滯回線計算釘扎中心密度。

激光閃射法：測定不同溫度區(qū)間的熱擴散系數(shù)變化規(guī)律。

電子背散射衍射（EBSD）：統(tǒng)計晶粒取向分布與織構(gòu)演變規(guī)律。

超聲波C掃描：無損檢測宏觀尺度下的層間剝離缺陷。

檢測標準

ASTMB923-20金屬多孔材料密度測定標準試驗方法

ISO14577-1:2015金屬材料硬度和材料參數(shù)的儀器化壓痕試驗

GB/T13301-2017金屬材料電阻系數(shù)測量方法

IEC61788-15:2011超導電性-第15部分：電子特征測量-Matrix復(fù)合超導體剩余電阻比

ASTME112-13平均晶粒度測定標準試驗方法

ISO12107:2012金屬材料疲勞試驗統(tǒng)計數(shù)據(jù)分析方法

GB/T4339-2008金屬材料熱膨脹特征參數(shù)的測定

EN10002-1:2001金屬材料拉伸試驗第1部分：室溫試驗方法

JISH7805:2005X射線衍射法測定金屬超細粉末的晶粒尺寸

ASTME384-17材料顯微硬度的標準試驗方法

檢測儀器

場發(fā)射掃描電鏡（FE-SEM）：配備EBSD和EDS模塊，實現(xiàn)納米級分辨率下的微觀結(jié)構(gòu)解析與元素面分布分析。

超導量子干涉儀（SQUID）：在極端低溫環(huán)境下精確測量材料的磁化強度與臨界電流特性。

高溫同步熱分析儀（STA）：同步采集熱重（TG）與差示掃描量熱（DSC）數(shù)據(jù)，研究相變動力學過程。

三維X射線顯微鏡（XRM）：非破壞性獲取復(fù)合材料內(nèi)部缺陷的三維空間分布信息。

低溫力學試驗系統(tǒng)：集成液氦溫區(qū)環(huán)境模塊的萬能試驗機，可進行4.2K下的拉伸/彎曲性能測試。

激光導熱分析儀（LFA）：采用瞬態(tài)平面熱源法測定材料各向異性熱擴散系數(shù)。

聚焦離子束系統(tǒng)（FIB-SEM）：實現(xiàn)特定微區(qū)結(jié)構(gòu)的定點加工與三維重構(gòu)分析。

二次離子質(zhì)譜儀（SIMS）：對輕元素（如H,Li,B）進行深度剖析的痕量分析設(shè)備。

殘余應(yīng)力分析儀：基于X射線衍射原理測量加工應(yīng)力在材料中的梯度分布。

原子探針斷層成像儀（APT）：達到原子級分辨率的化學成分三維重構(gòu)設(shè)備。

檢測流程

1、咨詢：提品資料(說明書、規(guī)格書等)

2、確認檢測用途及項目要求

3、填寫檢測申請表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)

5、收到樣品，安排費用后進行樣品檢測

6、檢測出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫報告草件，確認信息是否無誤

7、確認完畢后出具報告正式件

8、寄送報告原件